MS-101D抗干扰介质损耗测试仪

1、测量中压互感器tgδ的方法

如图11所示，用反接线方式测量，将C2末端δ与C1首端相连，接仪器HV口（用高压电缆）XT悬空，中压互感器二次线圈短路接地。

   由于C1 +C2远大于CB，所以此方法测得的tgδ≈tgδB。

如果现场CB值较小，现场干扰又较大，反接线所测得的数据误差可能较大，这时可选择正接线方式测量。首先把CVT二次引线全部断开，并将二次线圈短路，然后接仪器的CX测量线。XT悬空。接线方式见图12所示：

2、电容C1和tgδ1 ，C2和tgδ2的测量：

测量主电容tgδ1和C1的接线如图13所示。由中间变压器励磁加压， XT点接地，主电容C1高压端用CX线接仪器的CX端，分压电容C2的δ端用另一条CX线悬空接仪器的HV高压端。由于“δ”端绝缘水平所限，试验电压不超过3kV。

接线完毕，把测量方式选择到CVT上，测试电压不要超过3.0kV。仪器自动测试，测试完毕会自动或手动打印C1，C2的电容和介损。按“增大”、“减小”建翻页显示C1，C2的电容和介损。